[서울파이낸스 박영웅 기자] 전신 스캐너의 방사선에 노출돼 숨질 확률이 비행기 폭탄테러에서 사망할 확률과 같다는 주장이 제기됐다고 영국의 일간지 데일리메일 인터넷판이 18일 보도했다.
보도에 따르면, 미국 애리조나주립대학 피터 레즈 교수는 전신 스캐너의 방사선 때문에 암에 걸려 사망할 확률과 비행기 폭탄테러로 사망할 확률이 약 3천만분의 1로 같다고 주장했다.
레즈 교수는 두 확률이 우연히 일치한다는 건 어떤 경우에도 전신 스캐너를 도입하지 말아야 한다는 의미라면서, 3천만분의 1이라는 확률은 "미국에서 누군가가 번개에 맞아 사망할 확률보다 10배 낮은 것"이라고 덧붙였다고 한다.
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