썬마이크로시스템즈가 자사 RFID 테스트 센터와 환경 테스트 연구소인 썬 어드밴스드 프로덕트 테스팅(Sun Advanced Product Testing, 이하 APT)을 통합했다고 밝혔다.

썬은 그 동안 다수의 고객이 이용해 왔던 썬 RFID 테스트 센터의 효용성을 더욱 높이고 보다 나은 상호호환성(Interoperability), 적합성(Conformance) 및 성능(Performance) 등과 같은 요인을 테스트 할 수 있도록 하기 위해 기존에 텍사스에 위치한 RFID 테스트 센터를 콜로라도로 옮겼다.
 
이를 통해 썬 RFID센터의 고객은 APT에서 과열, 충격, 습기, 진동, 고도 및 압력 등 환경적인 영향에 대해서도 테스트를 할 수 있게 됐다.
 
썬의 새로운 RFID 테스트 센터는 덴버 외곽에 위치한 썬의 루이빌 캠퍼스에 위치하고 있다.
 
본 센터는 세계 최초로 RFID솔루션의 환경적 압력 테스트와 상호운영성, 표준 컴플라이언스 테스팅을 동시에 실시 할 수 있도록 한 곳으로 본 센터 및 썬 RFID솔루션에 대한 자세한 내용은 http://www.sun.com/rfid 에서 볼 수 있다.
 
한편, 지금까지 썬 APT 에서는 펩시, 씨게이트, HP, 쿠어스 등이 실험을 했으며 썬 RFID 테스트 센터에서는 쿠어스, 굿이어 등 수천개의 고객사가 테스트를 실시한 바 있다.
 
 남지연기자 lamanua@seoulfn.com